顏色 – 偏光顯微研究
       光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡是礦相學(xué)和礦物表征的*備工具。典型的應(yīng)用是對(duì)礦物的紋理和解離進(jìn)行定性、定量分析及測(cè)定。大部分巖石和礦物樣品含有光學(xué)各向異性材料。顏色是在顯微鏡下鑒定礦物的最重要屬性之一。因此，偏光顯微鏡對(duì)礦物樣品的鑒定與研究具有十分重要的作用。偏光顯微鏡能夠分析晶粒大小和形狀、結(jié)晶度和巖石礦物形貌，幫助識(shí)別各類(lèi)巖石礦物。
檢測(cè)更多的特性
       偏光顯微鏡在礦物表征中的廣泛應(yīng)用包括分析多色性、折射率和整體表面形貌，以及孿晶、雜質(zhì)和解理等。巖石形成的條件，如溫度、壓力、形成時(shí)的組份、溶液結(jié)晶化或熔體凝固化，都會(huì)影響礦物形貌、結(jié)晶及光學(xué)特性，也可以作為我們判定某一特定巖石的成因和來(lái)源的依據(jù)。
適用于您特定需求的各種觀察方式
       借助透射偏光顯微鏡可以對(duì)拋光薄片進(jìn)行研究，運(yùn)用正交、錐光、DIC 及相差等各種透射光技術(shù)識(shí)別單個(gè)晶體和礦物顆粒。對(duì)于不透明的礦物，利用明場(chǎng)、暗場(chǎng)、DIC（微分干涉相差）或 C-DIC 等反射光觀察方法，能夠分析比如攣晶的顏色、晶體解理面及形貌等特征。大多數(shù)情況下，在對(duì)各向異性材料進(jìn)行分類(lèi)時(shí)，對(duì)錐光觀察獲得的干涉圖像進(jìn)行分析的價(jià)值遠(yuǎn)勝于物體本身的圖像信息。
選擇適合的儀器
       在礦物學(xué)教育和礦石研究領(lǐng)域中，偏光顯微鏡也是您的首要選擇，它包括簡(jiǎn)易的觀察系統(tǒng)和*端的分析型儀器。這類(lèi)顯微鏡永遠(yuǎn)不會(huì)過(guò)時(shí)，并能隨時(shí)進(jìn)行升級(jí)。它可以提供無(wú)應(yīng)力光學(xué)元件、全功能的觀察方式和測(cè)量技術(shù)，正交偏光和錐光鑒定，解理角的測(cè)定，并有多種選配件以及數(shù)字分析功能。
如需獲取更深層的信息
       掃描電子顯微鏡是一種多用途的分析儀器，例如可用于礦相分類(lèi)和定量研究及礦物解離分析。礦石 & 礦物表征的*常用信號(hào)為背散射電子信號(hào)，它能用于提供化學(xué)信息。