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堅固耐用的常規(guī)儀器和先進的研究工具在機械工程和多種機械設(shè)備及配件的生產(chǎn)制造中會經(jīng)常使用光學和電子顯微鏡。它們需要堅固耐用的常規(guī)標準化測量儀器和先進精密的研究工具。在新材料研發(fā)、表面處理、焊接點和緊固件的過程控制，以及質(zhì)量控制與失效分析等領(lǐng)域中，您可以使用光學顯微鏡進行檢測分析。結(jié)構(gòu)檢驗鋼結(jié)構(gòu)部件斷裂的根源往往是因為微觀結(jié)構(gòu)的瑕疵，而斷裂結(jié)構(gòu)以及微觀瑕疵都能在光學顯微鏡下進行觀察辨別。諸如螺母和螺栓等緊固件的完整性對器具裝置的結(jié)構(gòu)安全而言是相當重要的。通常而言，檢驗通過重點關(guān)注...

化學工業(yè)和制造業(yè)在化工業(yè)和塑料產(chǎn)品制造業(yè)中，無論您是進行高分子原材料的生產(chǎn)，還是進行工業(yè)和最終消費產(chǎn)品的生產(chǎn)，光學和電子顯微鏡都發(fā)揮著重要的作用。塑料零部件和結(jié)構(gòu)化組件在航空航天、汽車、建筑等行業(yè)乃至醫(yī)療設(shè)備中均起到重要的作用。結(jié)晶晶體形貌不僅影響了高分子材料的所有機械性能，也影響其生物降解性和生物兼容性。為了成功地控制聚合物的微觀結(jié)構(gòu)并達到預(yù)期特性，您需要對高分子材料結(jié)晶過程有一個很好的理解。正置式顯微鏡和偏光顯微鏡不僅能夠用于檢測成品，也能用于檢測晶體在原位的生長（通常與...

顏色–偏光顯微研究光學顯微鏡和電子顯微鏡是礦相學和礦物表征的*備工具。典型的應(yīng)用是對礦物的紋理和解離進行定性、定量分析及測定。大部分巖石和礦物樣品含有光學各向異性材料。顏色是在顯微鏡下鑒定礦物的最重要屬性之一。因此，偏光顯微鏡對礦物樣品的鑒定與研究具有十分重要的作用。偏光顯微鏡能夠分析晶粒大小和形狀、結(jié)晶度和巖石礦物形貌，幫助識別各類巖石礦物。檢測更多的特性偏光顯微鏡在礦物表征中的廣泛應(yīng)用包括分析多色性、折射率和整體表面形貌，以及孿晶、雜質(zhì)和解理等。巖石形成的條件，如溫度、壓...

陶瓷：具有良好的抗腐蝕和導(dǎo)熱性陶瓷是建筑材料、瓷磚或衛(wèi)生設(shè)施等許多產(chǎn)品的關(guān)鍵組成部分。由于陶瓷材料具有良好的抗腐蝕和導(dǎo)熱性，因此在某些*端環(huán)境下陶瓷作為耐火材料（如爐襯等）有著廣泛的應(yīng)用。技術(shù)先進的專業(yè)陶瓷也被應(yīng)用于電氣與電子行業(yè)，例如用作陶瓷絕緣體等；而在醫(yī)學工程領(lǐng)域，如牙移植或涂有羥基磷灰石的人工骨骼的醫(yī)學修復(fù)中，陶瓷亦有應(yīng)用。在新型材料開發(fā)中，我們常常需要對陶瓷的微觀顯微結(jié)構(gòu)及特性之間的關(guān)系進行研究。在失效分析中，微觀顯微結(jié)構(gòu)可作為識別斷裂原因的有價值參考信息。而在質(zhì)量...

為專家和入門者量身定制的全套測量解決方案無論您是負責行業(yè)的質(zhì)量控制還是在實驗室里研發(fā)新型材料，數(shù)字顯微鏡系統(tǒng)都是您進行研究的基礎(chǔ)。這樣的顯微鏡系統(tǒng)必須適合從新手到專家的各類人群，能夠提供專業(yè)應(yīng)用模塊并符合內(nèi)部測試規(guī)程和新標準。簡而言之，它是一套為您量身定制且能滿足您應(yīng)用需求的*美解決方案。實現(xiàn)微米和納米級研究觀測。交互式測量每次測量的基本參數(shù)包括面積、角度、周長、直徑、重心以及其它許多參數(shù)。您需要交互式地確定需要獲得的某種測量參數(shù)或測量順序，并讓其按照指*的順序進行。因此，交...

減輕重量以實現(xiàn)更高效率汽車工業(yè)和航空航天業(yè)是復(fù)合材料應(yīng)用*廣的兩大領(lǐng)域。輕質(zhì)的產(chǎn)品零部件能大大減輕汽車和飛機的重量。此外，復(fù)合材料在高科技醫(yī)學修復(fù)及比賽用自行車生產(chǎn)中亦有相關(guān)應(yīng)用。光學顯微鏡和電子顯微鏡檢測能在新型復(fù)合材料的設(shè)計、過程控制及失效分析中獲得重要信息。組份是關(guān)鍵復(fù)合材料包括了高分子材料（或樹脂）基質(zhì)及高強度纖維等填充材料，如碳纖維復(fù)合材料。我們可以在顯微鏡下對工藝參數(shù)的作用效果和復(fù)合材料成品結(jié)構(gòu)上的填料特性進行相關(guān)研究觀察，同時復(fù)合材料顯微結(jié)構(gòu)也影響了其機械性能。...

白光干涉儀，作為一種高精度的光學測量儀器，廣泛應(yīng)用于科研、工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量檢測等多個領(lǐng)域。它基于光學干涉原理，能夠?qū)崿F(xiàn)對物體表面微觀形貌的精確測量，具有測量精度高、操作便捷、功能齊全和測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點。白光干涉儀的結(jié)構(gòu)主要包括照明光源系統(tǒng)、光學成像系統(tǒng)、垂直掃描控制系統(tǒng)、數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)和應(yīng)用軟件。照明光源系統(tǒng)通常采用高亮度LED光源，提供穩(wěn)定、均勻的光源。光學成像系統(tǒng)則負責接收從樣品和參考鏡反射回來的光線，并形成清晰的圖像或干涉條紋。垂直掃描控制系統(tǒng)能夠精密驅(qū)動顯微物鏡上下...

分析任一顆粒顆粒度分析中經(jīng)常需要就顆粒數(shù)目、尺寸及粒徑分布等對樣品數(shù)字圖像進行分析。在不同行業(yè)中，這些顆?？赡苁墙饘傥驳V或是其它污染物，如液體中的微晶或氣孔或機器零件中的瑕疵或氣泡。這方面的分析需要具備精確測量、高分辨率、電動載物臺和圖像拼接，以及圖像分析軟件。殘留污垢顆粒度分析的一個重要應(yīng)用便是殘余污垢的測定。許多行業(yè)都要求依據(jù)行業(yè)標準和規(guī)定，控制并記錄產(chǎn)品的清潔度。一個已加工好的零部件可能布滿灰塵，或殘留有各種污物。隨機抽選配件，用定量液體沖洗，然后通過濾膜加壓，所有灰塵...